江西组件检测仪器厂家

基于AI数据发展路径以及市场痛点，云测数据在初期重点瞄准了为智能驾驶、智能家居、智能安防、智慧金融保险等领域企业提供定制化场景的数据采集、自建团队式的高精度标注服务。截至目前，云测数据在华东、华北、华南设有数据交付中心和采集基地，并为数百家企业提供一站式AI数据服务。未来，云测数据的发展目标将更多在细分领域发力，做到领域知识积累更深厚，数据更精细，数据更安全。拥有这三项应战能力，云测数据就可以在数据服务赛道中精细地抓住变革中的机会。解决AI企业想要依靠独有专业数据提升技术能力、但又无力建立数据团队的问题，这就是云测一贯所思考的和期待为行业赋能的出发点。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测，有需求可以来电咨询！江西组件检测仪器厂家

在太阳能电池片生产中，EL检测仪可以应用于太阳能电池片分机来识别机器视觉系统不容易识别的内部缺点，如黑心、黑斑、断栅、隐裂、碎片等缺点。在电池片、硅片的分选中，普通的缺点、颜色可通过机器视觉系统进行识别判断，但对于一些内部缺点系统不易识别或容易漏检，这样就导致分选设备误判或漏判分选效率不高。目前的EL检测仪技术可实现电池片正、反缺点、颜色、内部缺点进行识别判断分选，检测速度达到国际同类水平，检测效率大幅提高。电池片检测仪厂家上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司。

光伏电池产业链为硅料、硅片、电池片、组件、系统五个环节，根据CPIA（中国光伏行业协会）数据，2018年我国多晶硅、硅片、电池片、组件有效产能分别达116.1GW、146.4GW、128.1GW、130.1GW，产量分别为77.7GW、109.2GW、87.2GW、85.7GW（其中多晶硅产能和产量分别为38.7万吨和25.9万吨，折算成GW），我国硅料、硅片、电池片、组件产量占全球总产量的比重分别为58%、90%、73%、72%，是全球比较大的光伏生产国。2010-2018年，我国电池片、硅片、组件产量分别增加了近8倍、10倍和8倍之多。2019年，尽管在政策调整下，我国光伏应用市场有所下滑，但受益于海外市场增长，我国光伏各环节产业规模依旧保持快速增长势头。截至2019年底，我国多晶硅产能达到46.2万吨，同比增长19.4%，产量约34.2万吨，同比增长32.0%;硅片产量134.6GW，同比增长25.7%;电池片产量108.6GW，同比增长27.7%;组件产量98.6GW，同比增长17.0%。随着传统化石能源的日益减少，可再生能源的消耗比重逐年增加，光伏发电的比重更是增加迅速。根据规划预测，到2050年中国的光伏装机达到2000GW，年发电量达2600TWh，占全国总发电量的26%。我国光伏业仍处于成长期，未来发展空间大。

EL测试仪全称为电致发光(英文Electroluminescent)测试仪，是一种太阳能电池或电池组件的内部缺点检测设备。常用于检测太阳能电池组件的内部缺点、隐裂、碎片、虚焊、断栅以及不同转换效率单片电池异常现象。EL功能特点进口关键部件：采用原装进口红外相机，保证了设备的整体品质。·全封闭式光路设计：封闭式光路设计可保证设备长期稳定运，更好的适应不同的使用环境·强大测试软件：全中文显示界面，可自动手动扫描图形码编号并按编码进行文件保存。可放大扫描图像显示细节，方便判断。上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司，欢迎您的来电！

当光伏组件出现问题时，局部电阻升高，该区域温度就会升高。EL测试仪就像我们体检中的X光机一样，可以对光伏组件进行体检--通过便携式组件检测仪红外图像拍摄，根据温度不同，图像呈现不同的颜色，从而非常容易的发现光伏组件的很多问题：隐裂、热斑、PID效应等。光伏组件在运输、搬运、安装等过程中，容易被、撞击，导致组件产生不易察觉的隐裂，极大影响组件输出功率。用EL变可以检测出来，1全自动对焦功能:运用激光技术使得成像系统可以自动对焦。2测距功能:运用蓝牙无线技术轻松观测到测试距离。3无线数据传输:运用wifi技术实现平板/手机远程无线控制拍照与图像传输。4移动电源:自主开发的移动电源使现场通电变得轻松方便。5全自动云台系统，适合对大型地面电站进行检测可以同时检查大面积组件。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，用户的信赖之选，有需求可以来电咨询！浙江检测系统厂家

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EL（Electroluminescence，电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。电池片的部分是半导体PN结，在没有其它激励（例如光照、电压、温度）的条件下，其内部处于一个动态平衡状态，电子和空穴的数量相对保持稳定。如果施加电压，半导体中的内部电场将被削弱，N区的电子将会被推向P区，与P区的空穴复合（也可理解为P区的空穴被推向N区，与N区的电子复合），复合之后以光的形式辅射出去，即电致发光。当被施加正向偏压之后，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。给晶硅组件施加电压后，所激发出的电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL图像也就越亮；如果有的区域EL图像比较暗，说明该处产生的电子和空穴数量较少，该处存在缺点；如果有的区域完全是暗的，该处没有发生电子和空穴的复合，也或者是所发光被其它障碍所遮挡，无法检测到信号。江西组件检测仪器厂家