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隐裂形成的缘由和光伏组件检测方法电池片中出现细小裂纹就是隐裂，隐裂了的电池片会加快电池片功率减退，组件的正常使用寿命被影响了，而且在机械载荷下电池片的隐裂会扩大，有导致开路性破坏的可能，隐裂还有几率会造成热斑效应。因为多方面原因共同作用下造成了隐裂的产生，组件受力不均，还有可能造成电池片的隐裂是在运输、倒运的过程中剧烈的抖动。使用EL检测仪进行EL成像检测是会在光伏组件在出厂前进行的。为了获取并判定组件的缺陷，该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，用户的信赖之选，欢迎新老客户来电！广东AI检测设备厂家

11、在太阳能电池片生产中，EL检测仪可以应用于太阳能电池片分机来识别机器视觉系统不容易识别的内部缺陷，如黑心、黑斑、断栅、隐裂、碎片等缺陷。在电池片、硅片的分选中，普通的缺陷、颜色可通过机器视觉系统进行识别判断，但对于一些内部缺陷系统不易识别或容易漏检，这样就导致分选设备误判或漏判分选效率不高。目前的EL检测仪技术可实现电池片正、反缺陷、颜色、内部缺陷进行识别判断分选，检测速度达到国际同类水平，检测效率大幅提高。光伏电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅和不同转换效率单片电池异常现象可以被EL检测仪检测到。浙江el检测设备价格检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，用户的信赖之选，欢迎您的来电！

基于上述原因，我们可以看出对电池片功能影响比较大的，是平行于主栅线的隐裂。根据研究结果，50%的失效片来自于平行于主栅线的隐裂。45°倾斜裂纹的效率损失是平行于主栅线损失的1/4。垂直于主栅线的裂纹几乎不影响细栅线，因此造成电池片失效的面积几乎为零。相比于晶硅电池表面的栅线，薄膜电池表面整体覆盖了一层透明导电膜，所以这也是薄膜组件无隐裂的一个原因。有研究显示，组件隐裂严重时，会导致组件功率的损失，但是损失的大小并不一定。裂纹对组件电性能的影响小，而裂片对组件功率损失非常大；老化试验，即组件在工作或非工作的情况下，温、湿度变化可能会引起电池片隐裂的加剧；组件中没有隐裂的电池片比隐裂的电池片抗老化能力强。

隐裂是电池片的缺陷。由于晶体结构的自身特性，晶硅电池片十分容易发生破裂。晶体硅组件生产的工艺流程长，许多环节都可能造成电池片隐裂（据西安交大杨宏老师的资料，电池生产阶段就有约200种原因）。隐裂产生的本质原因，可归纳为在硅片上产生了机械应力或热应力。近几年，晶硅组件厂家为了降低成本，晶硅电池片一直向越来越薄的方向发展，从而降低了电池片防止机械破坏的能力。2011年，德国ISFH公布了他们的研究结果：根据电池片隐裂的形状，可分为5类：树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平行于主栅线、垂直于栅线和贯穿整个电池片的裂纹。上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测，期待为您服务！

隐裂种类虽然众多，但不是所有的隐裂都会对电池片有影响。在组件生产、运输、安装和维护过程中，考虑到晶硅组件的易裂特征，需要在安装电站的各个过程注意并改进作业流程，尽量减少组件隐裂的产生。对于检测隐裂，目前EL是的方法。而导致组件隐裂的原因众多，要弄清楚原因后再追究责任，不能盲目听信他人之言。给晶硅组件施加电压后，所激发出的电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL图像也就越亮；如果有的区域EL图像比较暗，说明该处产生的电子和空穴数量较少，该处存在缺点；如果有的区域完全是暗的，该处没有发生电子和空穴的复合，也或者是所发光被其它障碍所遮挡，无法检测到信号。上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测，有想法的可以来电咨询！宁夏视觉检测仪器

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EL英文全称Electro Luminescence，即电致发光，也可以叫电子发光检测。通过利用晶体硅的电致发光原理，配合高分辨率的红外相机拍摄晶体硅的近红外图像，通过图像软件对获取成像图像进行分析处理从而对太阳能电池片、光伏组件等的缺陷判定。目前EL检测应用在光伏行业方面，如光伏组件的缺陷检测、太阳能电池片内部缺陷检测、硅片隐裂检测等。在光伏组件、光伏电站中采用便携式的EL检测仪，可以适应不同环境、不同场所的应用，方便其对光伏组件产生的内部缺陷进行快速识别判断。广东AI检测设备厂家