宁夏产品瑕疵检测系统

上海欧普泰科技创业股份有限公司，EL检测仪，又称太阳能组件电致发光缺点检测仪，是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺点检测及生产工艺监控的测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光，测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系，因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域，该部分没有发出1150nm的红外光，故红外相片中反映出黑心，此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测，期待您的光临！宁夏产品瑕疵检测系统

隐裂是电池片的缺陷。由于晶体结构的自身特性，晶硅电池片十分容易发生破裂。晶体硅组件生产的工艺流程长，许多环节都可能造成电池片隐裂（据西安交大杨宏老师的资料，电池生产阶段就有约200种原因）。隐裂产生的本质原因，可归纳为在硅片上产生了机械应力或热应力。近几年，晶硅组件厂家为了降低成本，晶硅电池片一直向越来越薄的方向发展，从而降低了电池片防止机械破坏的能力。2011年，德国ISFH公布了他们的研究结果：根据电池片隐裂的形状，可分为5类：树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平行于主栅线、垂直于栅线和贯穿整个电池片的裂纹。广东光伏检测设备厂家上海欧普泰科技创业股份有限公司检测服务值得放心。

电位诱发衰减效应是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷狙击在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时，会引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个组串的功率输出。一是系统设计原因：光伏电站的防雷接地是通过将方阵边缘的组件边框接地实现的，这就造成在单个组件和边框之间形成偏压，组件所处偏压越高则发生PID现象越严重。对于P型晶硅组件，通过有变压器的逆变器负极接地，消除组件边框相对于电池片的正向偏压会有效的预防PID现象的发生，但逆变器负极接地会增加相应的系统建设成本;二是光伏组件原因：高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流，封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一，在使用不同EVA封装胶膜条件下，组件的抗PID性能会存在差异。三是电池片原因：电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。上述引起PID现象的三方面中，由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认。

说到表面缺陷我们就能联想到产品的质量问题，任何产品在生产过程中都会出现一些表面局部不匀称的区域，例如金属表面中的划痕、斑点、等等，这些缺陷除了会影响产品的美观度，还会影响产品的质量问题，给用户带来很不好的体验，因此很多制造厂商企业针对这些缺陷问题是十分的重视。人工检测是产品表面缺陷的传统检测方法，该方法抽检率低、准确性不高、实时性差、效率低、劳动强度大、受人工经验和主观因素的影响大，而基于机器视觉的检测方法可以很大程度上克服上述弊端。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，让您满意，期待您的光临！

随着国内外对清洁能源需求的增加以及各国对清洁能源补助的提高，光伏组件的需求也在快速增长。为保证产能及组件品质的可靠性，高精度、高速太阳能电池片的全自动焊机成为光伏企业的优先。目前这些设备大多依赖进口，然而进口设备高昂的价格很大程度上增加了太阳能发电的成本，急需研制出高水平的太阳能电池片焊接设备来满足市场的需求。电池片焊接设备的精度、速度与电池片的完整性相关。传统的检测方法精度低、速度慢，而且部分还需依赖人工操作，不能满足市场要求，而基于机器视觉的检测方法能有效地解决这些问题。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，用户的信赖之选，欢迎您的来电哦！宁夏产品瑕疵检测系统

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基于上述原因，我们可以看出对电池片功能影响比较大的，是平行于主栅线的隐裂。根据研究结果，50%的失效片来自于平行于主栅线的隐裂。45°倾斜裂纹的效率损失是平行于主栅线损失的1/4。垂直于主栅线的裂纹几乎不影响细栅线，因此造成电池片失效的面积几乎为零。相比于晶硅电池表面的栅线，薄膜电池表面整体覆盖了一层透明导电膜，所以这也是薄膜组件无隐裂的一个原因。有研究显示，组件隐裂严重时，会导致组件功率的损失，但是损失的大小并不一定。裂纹对组件电性能的影响小，而裂片对组件功率损失非常大；老化试验，即组件在工作或非工作的情况下，温、湿度变化可能会引起电池片隐裂的加剧；组件中没有隐裂的电池片比隐裂的电池片抗老化能力强。宁夏产品瑕疵检测系统