上海AOI光学检测

AIVS-D系列在线PCBA插件AOI通过1200或2000万高分辨率的工业相机，从电子电路板顶面拍照，通过AI人工技术，深度学习算法、智能图像分析，检测电子电路板上插件元器件的缺件、多件、偏移、反向、错件、浮高、OCV(文字识别）、可支持测试色环电阻错料。本插件AOI设备可应用于波峰焊炉前或炉后，应用在炉后时，可自动检测板卡的旋转角度，保证元件的检测正确性和稳定性。AIVS-D系列在线PCBA插件AOI采用的卷积神经网络（ConvolutionalNeuralNetworks,CNN）是一类包含卷积计算且具有深度结构的前馈神经网络（FeedforwardNeuralNetworks），是深度学习（deeplearning）的表示算法之一。卷积神经网络仿造生物的视知觉（visualperception）机制构建，可以进行监督学习和非监督学习。作为图像识别领域的算法之一，卷积神经网络在学习数据充足时有稳定的表现。针对本系统所处理的大规模图像分类问题，卷积神经网络将用于提取图像的判别特征，再通过分类器进行学习和识别。图像传感器是AOI系统采集图像的基础，目前市面上大多数厂商选择使用面阵相机。上海AOI光学检测

    图像采集阶段（光学扫描和数据收集）AOI的图像采集系统主要包括光电转化摄影系统，照明系统和控制系统三个部分。因为摄影得到的图像被用于与模板做对比，所以获取的图像信息准确性对于检测结果非常重要，可以想象一下，如果图像采集器看不清楚或看不到被检测物体的特征点，那么也就无法谈到准确的检出。下面我们对光电转化摄影系统，照明系统和控制系统三个部分逐一分析介绍。首先，光电转化摄影系统指的是光电二极管器件和与之搭配的成像系统。是获得图像的”眼睛”,原理都是光电二极管接受到被检测物体反射的光线，光能转化产生电荷，转化后的电荷被光电传感器中的电子元件收集，传输形成电压模拟信号。二极管吸收光线强度不同时生成的模拟电压大小不同，依次输出模拟电压值被转化为数字灰阶0-255值，灰阶值反映了物体反射光的强弱，进而实现识别不同被检测物体的目的。 山东新一代智能AOI检测设备无需设置参数：1.采用智能算法、自动框图比例高；2.无需抽色、无需调饱和度、色相、无需调容忍度、阈值。

爱为视（AIVS）新一代炉前智能插件检测设备，全球第1款不用设置参数的AOI！极速编程10分钟上手好！关键优势之“支持局部检测”支持器件本体大部分特征相同，局部有差异的器件检测，比如：外形一样，颜色不同的音频座。爱为视（AIVS）新一代炉前智能插件检测设备，全球第1款不用设置参数的AOI！极速编程10分钟上手好！为您提供插件炉前错、漏、反、多、歪斜等缺陷检测方案！全智能！全智能！爱为视（AIVS）新一代炉前智能插件检测设备，全球第1款不用设置参数的AOI！极速编程10分钟上手好！关键优势之“不用设置任何参数”：1.采用智能算法，自动框图比例高；2.无需抽色、无需调饱和度、色相，无需调阈值、容忍度！

炉后皮带线模式:支持，且可以多机种共线生产；支持NGbuffer对接；支持多工位语音播报、自定义语音播报内容；通讯方式：支持标准接口、定制接口；追溯:可实时输出。支持按条码、二维码、机型、时间等维度追溯；条码识别:支持识别一维码（128码）,二维码（QR/DM码）；画面显示:1、主图画面动态与静态结合，便于员工观察；2、根据底板颜色可以自由选择器件框颜色，适应各种颜色底板；学习:1、支持系统学习训练，学习越多效果越好；2、支持本地学习；AOI系统集成技术会牵涉到关键器件、系统设计、整机集成、软件开发等内容。

画面显示：1、主图画面都有显示器件框，便于观察器件是否被识别；2、根据底板颜色可以自由选择器件框颜色；3、可依据客户需求，自由定义器件中文名；4、不良器件图静态显示；程序制作灵活性：1、无需设置参数；2、在线抓拍首件板系统辅助做程序，且支持持续补充学习，学习后自动建模比例更高（80%+）；---自动框图器件种类多（60+），比例高。3、支持中文、英文、中英文混合输入；4、批量复制、粘贴、剪切、删除等支持快捷键操作。---硬件条件和安装尺寸不发生变化，已做好的模板可长久正常使用爱为视是插件炉前错、漏、反、多等缺陷检测方案供应商。浙江AOI外观检测

主要用于生产问题明确、数量和速度为关键因素、产品混合度高的产品的检测。上海AOI光学检测

照明光源按照波长分类可以分为可见波长光源，特殊波长光源。可见波长光源也就是一般现代工业AOI检测设备中较常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长。上海AOI光学检测

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