北京年代测定X荧光

时间:2020年02月18日 来源:

【关键词】x射线 荧光分析 岩屑录井 应用

x射线荧光分析技术,**早是由我国地质录井行业学者朱根庆等人经过多年的研究开发出来的,并成功在岩屑录井中得到应用,具有**的知识产权。在对这一技术在岩屑录井中的运用进行探讨之前,需要首先对其原理进行一番说明与阐释。


1x射线荧光分析原理

x射线是一种具有特定波长(通常为0.005~10nm)的电磁波。每一个原子的核外电子在受到x射线的高能粒子束攻击时,会脱离原子核的束缚而释放出来,这些电子释放出来之后所造成的电子空位将会由处于高能量电子壳层的电子来填补,这样能量就会以二次x射线的形式释放出来。这种二次x射线又叫特征x射线或者x射线荧光,它具有物质元素的指纹效应。将x射线应用于岩屑样品时,岩屑就会被激发出具有各种波长的x射线荧光。而为了更清楚地对岩屑中的元素进行定性与定量分析,可以先把混合的x射线按能量或波长分开,然后对不同类型的x射线的强度进行测量,***由计算机对元素的种类和含量进行处理区分即可。具体原理与过程可见下图:



奥林巴斯手持式合金能谱仪应用于铁路轨道。北京年代测定X荧光

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2、粉磨压片:

2.1粉磨时间的确定:待测样品必须用**粉磨机粉磨,研磨有手动和机械振动磨两类,用机械振动磨效率高,便于控制样品复演性好。粉碎研磨选用一种合适的研磨器具是很重要的,特别在是在分析痕量元素时尤为重要,我公司选用得是碳化钨磨具,这样可以把分析误差降到**小。粉磨细度不能大于200目(76um),经过反复的试验对比,我们把生熟料和各种原材料的粉磨时间确定在150s,时间过长会产生粘磨,短则细度达不到分析要求。

2.2助磨剂和粘结剂的添加:在粉磨样品时加入适当的助磨剂有助于提高研磨效率,并且有利于料钵的清洗。加入粘结剂是为了使样品更好的成型,压制成表面光滑而又不容意破裂的样片。助磨剂和粘结剂必须是不含被测物成分的有机物,经过分析试验适合我公司的添加剂有:三乙纯胺、酒精、石腊详见附表2 广西汽车材料X荧光光谱仪 奥林巴斯手持式XRF能谱仪。

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2 X射线荧光光谱技术在地质分析中的应用

       近年来,随着仪器研究技术的发展,X荧光光谱分析的应用领域范围不断拓展,可广泛应用于地质、有色、环保、冶金、商检、卫生、建材等各个领域,下面主要介绍X射线荧光光谱分析在地质分析中的用途。

       X射线荧光光谱法(XRF)是地质分析中一种比较成熟的分析技术,该方法对于各种基体成分分析非常有效,测量结果的准确度、精密度和灵敏度较高,很好地满足了地质分析的要求。目前,XRF已经成为地质样品分析的标准方法。

2.5XRF在野外现场中的应用

       X射线荧光光谱分析技术还可以用于野外现场分析,具有很明显的优势。如成都理工大学等单位在上世纪70年代研制了便携式XRF,此后便一直将其应用于野外的试验研究,并不断改进仪器与实验方法,获得了很大的社会经济效益。80年代中期,北京矿冶总院将芬兰奥托昆普公司的新一代微机便携式XRF仪器用于矿山的现场分析,取得很大成功,从此在我国引发了研制和应用这类仪器的热潮。

金属材料、再生资源金属、高铁工程、飞机制造、锅炉压力容器、玻璃回收等。 奥林巴斯手持式合金光谱仪应用于金属材料业。

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1.2 X射线荧光分析的原理

连续X射线光谱中,波长稍短于受激元素吸收限的辐射光照射试样,试样受X射线照射后,其中各元素原子的内壳层(K,L或M层)电子被激发逐出原子而引起电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。

以一定能量的光子、电子、质子、粒子或其他离子轰击样品,将物质原子中的内壳层电子击出,产生电子空位,原子处于激发态。外壳层电子向内壳层跃迁,填补内壳层电子空位,同时释放出跃迁能量,原子回到基态。跃迁能量以特征X射线形式释放,或能量转移给另一个轨道电子,使该电子发射出来,即俄歇电子发射。另外还可能存在几率较低,主量子数相同,角量子数不同,亚壳层间电子的Coster-Kronig非辐射跃迁。

奥林巴斯手持式合金检测仪应用于航空航天业。内蒙古海洋环境X荧光光谱仪

奥林巴斯手持式合金检测仪应用于汽车制造业。北京年代测定X荧光

2 x射线荧光分析在岩屑录井应用中的可行性

鉴于以上对x射线荧光分析原理的解释,对其在岩屑录井中应用的可行性,我们可以作出以下思考:

2.1 地层岩性元素的种类不多

岩屑主要是由沉积岩构成的,我们知道沉积岩的化学成分并不多,所以岩屑录井对x射线荧光分析的要求是不高的。表1可以对碎屑岩的化学构成进行一番明确的说明:

由表1我们也可以看出,主要碎屑岩的化学成分都很简单,除了一些标志性的微量或痕量元素外,所含的基本化学元素并不多。x射线荧光分析的灵敏度可以满足对岩石中的化学元素进行定性和定量的快速鉴定。



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